產品列表
PROUCTS LIST
相關新聞
NEWS
HITACHI EA1200VX X射線熒光光譜儀
產品介紹：HITACHI EA1200VX X射線熒光光譜儀采用高計數率設計的Vortex高分辨率之硅半導體多陰極檢測器，計數率可達150,000 cps，是一般檢測器的15~20倍，能接受更多的Ｘ熒光訊號，針對合金或塑料高分子中主成分及微量元素分析的應用。
更新時間：2024-01-22
產品報價：
HITACHI EA1200VX X射線熒光光譜儀的詳細資料：
EA1200VX采用高計數率設計的Vortex高分辨率之硅半導體多陰極檢測器，計數率可達150,000 cps，是一般檢測器的15~20倍，能接受更多的Ｘ熒光訊號，針對合金或塑料高分子中主成分及微量元素分析的應用。
特點
◆高階Vortex SDD檢測器 ◆快速分析縮短檢測時間
◆高檢測率 高精準度 ◆計算機控制五種濾波器
◆元素分析范圍（鈉Na-鈾U） ◆CCD超高分辨率圖像
◆電激發50KV-1mA（15KV、30KV、40KV、50KV）
◆準直器面積自動切換1mm、8mm
測定元素 | 原子編號 11 (Na) ~ 83 (U) |
樣品形態 | 固體，粉末，液體 |
X光管 | 小型空冷式X射線管球(Rh靶) |
管電壓： 15kV, 30kV, 40kV, 50kV 管電流：1mA | |
檢測器 | Si 半導體檢測器 (無需液態氮) |
準直器 | 1mm, 5mm自動切換 |
樣品觀察 | 彩色CCD攝像頭 |
濾波器 | 5種模式自動切換 |
樣品室 | 430(W)*320(D)*209(H)mm |
X-ray Station | 筆記本電腦或桌面計算機 |
(OS; MS-windows XP) | |
打印機(選購) | 噴墨打印機 |
定性分析功能 | 能譜測定，自動辨別，圖譜比對 |
定量分析功能 | KLM 標示表示,，差異表示，塊體FP法，標準曲線法 |
統計處理功能 | MS-EXCEL |
報告制作 | MS-WORD |
設置尺寸 | 1080(W)*750(D)*810(H)mm(不含打印機) |
重量 | 90kg |
使用電源 | AC100~ 120V, 200 ~ 240V±10%, 10A |
選購 | 有害物質判定軟件 |
能譜匹配軟件(材料判定) | |
薄膜標準曲線軟件 | |
樣品進樣器 | |
準直器: 3mmΦ | |
真空泵(輕元素分析用) | |
標準品 (金屬電鍍薄膜厚度標樣, RoHS標樣) |
RoHS/WEEE |
(1)滿足歐盟RoHS指令，以及各國針對電子電機產品中有有害物質含量的快速檢測分析，例如Cd、Pb、Hg、Cr、Br等含量的快速分析。 |
合金分析 |
(1)金屬材料質量控管 :合金中主成份的快速分析。 (4)金屬回收與分類 : 依金屬成份含量做分類 |
油品分析 |
(1)燃料中的硫含量對環境的影響 : XRF 為zui有效檢測燃料中硫成份的工具(依據ASTM D4294) |
鍍層厚度分析 |
(1)分析電子部品電鍍層的厚度 |
環境分析 |
(1)可針對土壤、污泥、灰渣等進行快速有害物質的成分鑒定。 |
其他 |
(1)考古學古物分析 : 古物年代鑒定 (3)藝術品修復 : 顏料中金屬成份分析 |
| 如果你對HITACHI EA1200VX X射線熒光光譜儀感興趣，想了解更詳細的產品信息，填寫下表直接與廠家聯系： |
